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網(wǎng)絡(luò)分析儀
技術(shù)文檔
配置選件
獲取報(bào)價(jià)
頻率范圍
500Hz~110GHz
諧波抑制
-60dBc@20GHz
系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍
131dB@20GHz
系統(tǒng)跡線噪聲(IFBW:1kHz)
0.002dB@10GHz
反射跟蹤
±0.01dB@10GHz
Ceyear 3674系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是技術(shù)創(chuàng)新的巔峰之作,可以輕松應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體芯片測(cè)試、材料測(cè)試、天線測(cè)試、高速線纜測(cè)試、微波部組件測(cè)試等帶來(lái)的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。出色的射頻特性、靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相輔相成,只需一次連接即可完成多種測(cè)量任務(wù)。創(chuàng)新的人機(jī)交互設(shè)計(jì)可幫助您快速便捷地完成所需的測(cè)量設(shè)置,超大觸摸屏為您帶來(lái)靈活、高效的操作體驗(yàn)。
內(nèi)置4路脈沖發(fā)生器,用于內(nèi)部源調(diào)制、中頻門(mén)控制,并從后面板輸出。每路脈沖發(fā)生器的脈寬和延時(shí)獨(dú)立可設(shè)。
源調(diào)制來(lái)源包括后面板輸入、內(nèi)部脈沖發(fā)生器和常開(kāi)、常閉等多種狀態(tài),既可利用外部脈沖對(duì)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的源進(jìn)行調(diào)制,也可以使其處于連續(xù)波狀態(tài),通過(guò)觸發(fā)同步模式進(jìn)行測(cè)量,為T(mén)/R組件、天線收發(fā)模塊等測(cè)試提供有力支撐。
提供完善的混頻器/變頻器特性設(shè)置,支持雙階本振、外部本振源輸入;支持線性掃、功率掃、段掃等多種掃描類(lèi)型;通過(guò)簡(jiǎn)單設(shè)置可自動(dòng)完成復(fù)雜混頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分頻等特性計(jì)算;支持源端口功率、本振端口功率、衰減、功率掃特性設(shè)置等。
提供完整的混頻器/變頻器幅度響應(yīng)、絕對(duì)相位及絕對(duì)時(shí)延響應(yīng)測(cè)量能力。校準(zhǔn)過(guò)程中引入雙混頻器實(shí)現(xiàn)參考通路變頻與校準(zhǔn)通路的變頻。引入的雙混頻器要求與被測(cè)件的變頻特性一致,且校準(zhǔn)混頻器要求變頻特性互易。
單次連接即可完成混頻器/變頻器復(fù)數(shù)特性測(cè)量,幅度和相位測(cè)量精度高。
增益壓縮測(cè)量功能能夠通過(guò)一次連接、一次校準(zhǔn)完成有源器件在工作頻帶內(nèi)的線性增益、壓縮點(diǎn)增益、壓縮點(diǎn)輸入功率、壓縮點(diǎn)輸出功率、線性輸入匹配等壓縮參數(shù)測(cè)量。
提供三維視圖功能,更好地展示被測(cè)件在激勵(lì)狀態(tài)下的工作性能,另外還可以展示頻率切面和功率切面,可以直觀展現(xiàn)被測(cè)件在每個(gè)頻率點(diǎn)和每個(gè)功率點(diǎn)的特性。
一次連接,可同時(shí)測(cè)試S參數(shù)、噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)、增益壓縮和變頻增益等多種參數(shù)?;诶湓丛肼曄禂?shù)測(cè)試方法,可進(jìn)行精確的噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測(cè)試。通過(guò)構(gòu)建先進(jìn)的噪聲相關(guān)矩陣模型,結(jié)合矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀精密的S參數(shù)校準(zhǔn),適用于較小噪聲系數(shù)被測(cè)件的精確測(cè)試。測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍最大可達(dá)55dB,適用于較大增益被測(cè)件的測(cè)試。
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的每個(gè)端口都可以完成被測(cè)件的輸入譜和輸出譜的測(cè)量,可在小的分辨率帶寬下快速地定位被測(cè)件雜散譜和諧波的狀態(tài)。
針對(duì)有源器件的測(cè)試,頻譜測(cè)量功能可提供更多的測(cè)量參數(shù),單臺(tái)儀器通過(guò)單次連接可實(shí)現(xiàn)常規(guī)的S參數(shù)測(cè)試、雜散和諧波的定位測(cè)量;完備的比值和絕對(duì)測(cè)量誤差修正技術(shù)可提供更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。
具備強(qiáng)大的信號(hào)完整性測(cè)量分析能力,可提供微米級(jí)的空間分辨率。單一視圖同時(shí)完成時(shí)域和頻域測(cè)試分析,可以精準(zhǔn)測(cè)試傳輸線上阻抗特性的變化情況;便捷的近端與遠(yuǎn)端串?dāng)_測(cè)試,用于測(cè)試多條傳輸線之間相互影響的程度。
高級(jí)時(shí)域分析選件具備基于網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的虛擬眼圖生成及分析功能。根據(jù)不同的高速數(shù)字通信標(biāo)準(zhǔn),高級(jí)時(shí)域分析選件可以使用預(yù)先定義好的眼圖模板進(jìn)行高效率Pass/Fail測(cè)試。
寬頻帶測(cè)試,可用于真差分激勵(lì)下的輸入輸出功率、增益、諧波總失真等參數(shù)的分析,簡(jiǎn)化差分器件的諧波性能測(cè)試復(fù)雜度。
單次校準(zhǔn)同時(shí)完成多通道的誤差修正,設(shè)置和測(cè)量參數(shù)的編輯可通過(guò)XML文件的方式進(jìn)行,一鍵實(shí)現(xiàn)參數(shù)導(dǎo)入。
對(duì)于非標(biāo)準(zhǔn)接頭器件測(cè)試,如封裝微波器件、在片器件等,此類(lèi)器件無(wú)法與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀直接相連。通常使用夾具將被測(cè)件連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上,但同時(shí)夾具也引入了測(cè)量誤差。自動(dòng)夾具移除功能可以進(jìn)行夾具參數(shù)的提取、存儲(chǔ)以及夾具去嵌入,最終獲得被測(cè)件的真實(shí)參數(shù)。
界面簡(jiǎn)潔直觀,便于操作,提高測(cè)試效率
1-10MHz外參考輸入/輸出接口
2-110V/220V自適應(yīng)電源輸入
3-可拆卸CPU模塊,配置硬盤(pán)、LAN、DP、USB、GPIB接口
4-激勵(lì)輸出、本振輸出等接口,提供靈活的測(cè)量配置,提供靈活的測(cè)量配置
5-外中頻輸入接口,脈沖輸入輸出接口
6-偏置T配置輸入接口
7-自動(dòng)測(cè)試接口,觸發(fā)輸入/輸出接口,噪聲源電源接口
可拖動(dòng)左右查看列表全部
型號(hào) |
重量 |
功耗 |
溫度范圍 |
掃描模式 |
掃描駐留時(shí)間 |
對(duì)比 |
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