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典型應(yīng)用
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單端光器件測試
針對電光調(diào)制器、直接調(diào)制激光器等電光器件的S11參數(shù)和S21參數(shù)測試，利用多窗口顯示可快速獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性；針對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數(shù)和S21參數(shù)測試，利用光標(biāo)功能可快速分析3dB帶寬，評估器件的頻響特性；針對光纖濾波器等光光器件的S21參數(shù)測試，可快速實現(xiàn)損耗、平坦度等指標(biāo)的測量。
幅頻特性測試
利用儀器提供的多種顯示模式,可實現(xiàn)相位、群時延等信息的顯示，可快速實現(xiàn)相頻特性等指標(biāo)的測量。
相頻特性測試
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平衡光器件測試
光波元件分析儀通過配置四端口機型，實現(xiàn)平衡光發(fā)射或光接收器件對差分增益和共模抑制參數(shù)的測試需求，更加貼合現(xiàn)有和未來高速光纖通信領(lǐng)域中多端口參數(shù)的測量場合。
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光芯片在片測試
6433P光波元件分析儀搭配探針臺及高頻探針，可實現(xiàn)電光/光電芯片的頻響參數(shù)的測試。
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自動化測試
6433P光波元件分析儀提供標(biāo)準的SCPI程控指令集，方便用戶進行遠程控制。通過網(wǎng)口，只需完成設(shè)備的互聯(lián)，發(fā)送命令即可實現(xiàn)一體化的自動測試方案，方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數(shù)字源表及被測件等共同搭建光芯片測試系統(tǒng)。
