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產(chǎn)品綜述
5233D誤碼測(cè)試儀主要用于數(shù)字光收發(fā)模塊的誤碼性能測(cè)試。采用可更換接口板設(shè)計(jì)，可支持多種數(shù)字光收發(fā)模塊，包括CFP、CFP2、CFP4、CFP8、CSFP、CXP、CXP2、DSFP、QSFP、QSFP+、QSFP28、SFP、SFP+、SFP28、XFP等。5233D誤碼測(cè)試儀采用標(biāo)準(zhǔn)2U機(jī)架式結(jié)構(gòu)，支持RS232和以太網(wǎng)遠(yuǎn)程控制，具有比特誤碼測(cè)試、誤碼率眼圖、電壓拉偏、預(yù)加重控制、幅度控制、溫度與功耗監(jiān)測(cè)及DDM監(jiān)視功能。端口速率覆蓋100Mbps～400Gbps，適合于各種數(shù)字光收發(fā)模塊的研制和生產(chǎn)測(cè)試。
功能特點(diǎn)
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主要特點(diǎn)
支持SFP28、QSFP28等15種數(shù)字光收發(fā)模塊
一臺(tái)機(jī)箱可配置1～4個(gè)測(cè)試模塊，每個(gè)模塊支持2、4或8個(gè)端口
支持100G OTN、40GE、100GE二層協(xié)議
自動(dòng)識(shí)別載板和光模塊種類并進(jìn)行控制
按端口和通道進(jìn)行誤碼測(cè)試
為光模塊提供電源，并可以進(jìn)行電壓拉偏控制
光模塊工作電壓、電流與功耗測(cè)試
具有DDM監(jiān)視功能，通過I2C或MDIO接口對(duì)光模塊進(jìn)行控制和狀態(tài)讀取
具有眼圖掃描功能
光模塊工作環(huán)境溫度監(jiān)測(cè)
命令式遠(yuǎn)程控制，適合定制自動(dòng)化測(cè)試
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比特誤碼測(cè)試與眼圖分析
支持比特誤碼和眼圖分析功能，支持27-1 、29-1、211-1、215-1、220-1、223-1、231-1等PRBS圖形；支持非幀與成幀兩種數(shù)據(jù)類型。
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光模塊控制及系統(tǒng)信息
可對(duì)載板中插入的光模塊單獨(dú)操作，包括上電、掉電、發(fā)光、復(fù)位等，可顯示系統(tǒng)信息及光模塊類型。
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光模塊信息查看
具有全面的信息查詢功能，支持告警信息、光模塊寄存器信息、DDM監(jiān)控信息查看。
可拖動(dòng)左右查看列表全部
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型號(hào) |
重量 |
功耗 |
溫度范圍 |
掃描模式 |
掃描駐留時(shí)間 |
對(duì)比 |
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